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総合技術支援セミナー「シンクロトロン光の食品産業への利用」の参加者を募集します
あいち産業科学技術総合センター食品工業技術センター(名古屋市西区。以下「当センター」という。)では、あいちシンクロトロン光センター※1(瀬戸市)との共催で、総合技術支援セミナー「シンクロトロン光の食品産業への利用」を開催します。
本セミナーでは、食品産業分野でのシンクロトロン光※2の原理等を分かりやすく解説します。また、食品のおいしさの評価について、アイリスオーヤマ株式会社によるシンクロトロン光活用事例を紹介します。併せて、シンクロトロン光を活用した当センターの研究事例も発表します。
参加費は無料です。食品の分析や研究に関心のある企業の方々を始め、多くの皆様の御参加をお待ちしています。
1 日時
2024年2月22日(木曜日) 午後1時から午後4時30分まで
(受付開始:午後0時30分)
2 場所
あいち産業科学技術総合センター食品工業技術センター 大研修室
名古屋市西区新福寺町2-1-1 電話:052-325-8094(ダイヤルイン)
3 内容(詳細は案内ちらしを御覧ください) [PDFファイル/1.1MB]
時間 | 内容 |
13:00 | 主催者挨拶 |
13:05 |
演題1 |
14:45 |
演題2 主力事業の一つである「米事業」において、炊飯器、パックご飯のおいしさを追求する中、放射光X線CT※5を使用した「ご飯のおいしさを見る」取り組み等の事例を解説します。 |
15:50 |
事例1 |
16:10 |
事例2 |
4 対象
食品の分析や研究、シンクロトロン光の利活用に関心のある企業の方々を始め、どなたでも参加できます。
5 定員
60名(申込先着順)
6 参加費
無料
7 申込方法
次のいずれかの方法により、お申込みください。
※申込時点で定員に達していた場合は、電話又はメールにて早急にお断りの連絡をします。
(1)Webページ
以下のURL又は二次元コードからセンターのWebページにアクセスし、「講演会・研修会等参加申込みフォーム」の申込フォームに御記入ください。
申込後に講演会・講習会等申込み確認メールを送信します。
URL:https://www.aichi-inst.jp/shokuhin/other/seminar/
二次元コード
(2)メール
件名を「総合技術支援セミナー参加希望」とし、企業名、所在地、所属、氏名、電話番号、メールアドレスを御記入の上、「10 申込み・問合せ先」までお送りください。
(3)FAX
別添ちらし裏面の参加申込書に必要事項を御記入の上、「10 申込み・問合せ先」までお送りください。
参加申込書は食品工業技術センターで配布するほか、当センターのWebページからダウンロードできます。
URL:https://www.aichi-inst.jp/shokuhin/other/seminar/
8 申込期限
2024年2月15日(木曜日) 午後5時
申込期限前でも定員になり次第締め切ります。
9 主催
愛知県、公益財団法人科学技術交流財団、包装食品技術協会
10 申込み・問合せ先
あいち産業科学技術総合センター食品工業技術センター
保蔵包装技術室(担当 吉富、鳥居、石川)
名古屋市西区新福寺町2-1-1
電話:052-325-8094(ダイヤルイン) FAX:052-532-5791
メール:shokuhin-seminar@aichi-inst.jp
【用語説明】
※1 あいちシンクロトロン光センター
公益財団法人科学技術交流財団が整備・運営する、分子や原子レベルで物質の組成等を解析できるナノテク研究に不可欠な最先端の計測分析施設(2013年3月オープン)。産業利用を主目的とし、隣接するあいち産業科学技術総合センターが備える高度計測分析機器との相互利用によって、地域企業の技術的な課題解決を強力に支援する。
※2 シンクロトロン光
ほぼ光速で直進する電子が電磁石によって進行方向を変えられた際に発生する光(電磁波)のこと。非常に明るく、マイクロ波、赤外光、可視光、紫外光からX線まで連続した波長の光を含む。この光を利用して様々な計測・分析を行う。
URL:https://www.aichisr.jp/
※3 XAFS
X線吸収微細構造(X-ray Absorption Fine Structure)のこと。X 線のエネルギーを連続的に変えながら試料に照射し、その際に得られる吸収スペクトルを解析する方法。着目原子の電子状態やその周辺構造(隣接原子までの距離やその個数)などの情報を得ることができる。試料の結晶性(非晶質、結晶質)や形態(固体、液体、気体、測定に使用するX線のエネルギーによる)を問わずに測定が可能。
※4 ガスバリア包材
水蒸気や酸素といったガス(気体)が透過しにくい性質を持つ包装材料のこと。
※5 X線CT
X線(波長1pm-10nmの電磁波)が対象物を透過する際の「透過しやすさ」や「吸収されやすさ」の違いを利用して、内部の構造を可視化する装置。CTとはComputed(コンピューテッド) Tomography(トモグラフィ)(コンピューター断層撮影法)の略称で、X線で撮影した画像を三次元(立体)像に再構成することで内部構造を非破壊で三次元的(立体的)に評価(観察・検査・計測)することができる。
このページに関する問合せ先
あいち産業科学技術総合センター食品工業技術センター
保蔵包装技術室(担当 吉富、鳥居、石川)
名古屋市西区新福寺町2-1-1
電話:052-325-8094(ダイヤルイン) FAX:052-532-5791
メール:shokuhin-seminar@aichi-inst.jp