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明日を拓(ひら)くモノづくり新技術2024「検査評価技術の最前線」の参加者を募集します！
あいち産業科学技術総合センター(豊田市)は、名古屋市工業研究所(名古屋市熱田区)、一般財団法人ファインセラミックスセンター(JFCC、名古屋市熱田区)の3試験研究機関、及び名古屋商工会議所(名古屋市中区)と共催で、2024年11月15日(金曜日)にモノづくり新技術に関する合同発表会「明日を拓くモノづくり新技術2024」を開催します。
当日は、検査評価技術の最前線をテーマとし、名古屋大学大学院 教授 長野 方星(ながの ほうせい)氏による、サーモグラフィを用いた次世代の熱物性計測法に関する基調講演に加え、付加価値の高いモノづくりのイノベーション創出を目指す3試験研究機関の成果発表を行います。また、成果発表後には名古屋市工業研究所内の見学会を開催します。
技術開発に取り組む企業の方々を始め、どなたでも自由に参加できますので、皆様の御参加をお待ちしています。
1 日時
2024年11月15日(金曜日) 午後1時から午後5時まで(受付開始：午後0時30分)
2 場所
名古屋市工業研究所 管理棟 第一会議室
名古屋市熱田区六番三丁目4番41号 電話：052-661-3161
3 定員
80名(見学は40名) (申込先着順)
4 参加費
無料
5 内容(詳細は案内チラシをご覧ください) [PDFファイル／954KB]
| 時間 | 内容 | |
| 13:00～ | 開会挨拶 名古屋市工業研究所 所長 山岡 充昌(やまおか みちまさ) | |
| 13:05 ～14:05 |
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【基調講演】 近年、電子機器の放熱用高熱伝導複合材や炭素系複合材の研究開発が進んでいます。材料の開発・製造・使用において、熱物性評価や内部状態の把握が非常に重要です。長野氏の研究グループでは、次世代の熱物性計測法として、サーモグラフィを用いた熱拡散率、界面熱抵抗、比熱のマッピング測定法を開発しています。また、本手法を応用した繊維配向同定法、ボイド検査法、内部損傷評価法の開発も行っています。本講演ではこれらの取組み事例と将来展望について述べます。 |
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| 【各機関の成果発表】 | ||
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14:05 |
「アクティブサーモグラフィ法※1による非破壊検査事例の紹介」 |
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| 14:20 ～14:35 |
「画像検査に適した照明の波長に関する検討および装置紹介」 |
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| 14:35 ～14:45 |
休憩 | |
| 14:45 ～15:00 |
「CT計測※2の最新動向：高分解能と高コントラスト」 |
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| 15:00 ～15:15 |
「FT-IR※3を用いた分光放射率測定」 |
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| 15:15 ～15:30 |
「高温X線回折※4を用いた材料解析の基礎と応用」 |
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| 15:30 ～15:45 |
「JFCCにおける熱伝導率評価技術」 |
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| 15:45 ～16:00 |
名刺交換 | |
| 16:00 ～17:00 |
名古屋市工業研究所の施設見学 | |
6 申込方法
以下のURL又は二次元コードから名古屋商工会議所のWebページにアクセスし、入力フォームに必要事項を記入の上、お申し込みください。
https://www.nagoya-cci.or.jp/event/event-detail.html?eid=6369
二次元コード
7 申込期限
2024年11月8日(金曜日)
※定員に達し次第、締め切ります。御了承ください。
8 主催
あいち産業科学技術総合センター、名古屋市工業研究所、一般財団法人ファインセラミックスセンター、名古屋商工会議所
9 問合せ先
○イベント全体に関すること
あいち産業科学技術総合センター 企画連携部
担当：村上、酒井
電話：0561-76-8306
○各機関の発表に関すること
・あいち産業科学技術総合センター 企画連携部
担当：村上、酒井
電話：0561-76-8306
・名古屋市工業研究所 支援総括課
担当：村田、岸川
電話：052-661-3161
・一般財団法人ファインセラミックスセンター 研究企画部
担当：櫻場
電話：052-871-3500
| 用語 | 説明 |
| ※1 アクティブサーモグラフィ法 | 製品を外部エネルギーで熱励起し、温度の経時変化を赤外線カメラで観察することにより、局所的な熱応答の違いを見出し、きず等の異常を検出する方法。 |
| ※2 CT計測 | X線(波長1p(ピコ)m-10n(ナノ)mの電磁波)等が対象物を透過する際の「透過しやすさ」「吸収されやすさ」の違いを利用して、内部の構造を可視化する方法。撮影した画像を三次元(立体)像に再構成することで、内部構造を非破壊で三次元的(立体的)に評価(観察・検査・計測)することができる。CT はComputed(コンピューテッド) Tomography(トモグラフィ)(コンピューター断層撮影法)の略称。 |
| ※3 FT-IR |
試料に赤外光(波長2.5μ(マイクロ)m-25μmの電磁波)を照射し、どの波長で吸収があったかを測定する方法。試料の放射率を測定する場合は、赤外光源を用いず、基準である黒体炉及び加熱した試料からの放射を測定する。FT-IRはFourier(フーリエ) Transform(トランスフォーム) Infrared(インフラレッド) Spectroscopy(スペクトロスコピー)(フーリエ変換赤外分光法)の略。 |
| ※4 X線回折 | X線を試料に照射し、試料の原子や分子の配列状態によって特有のX線のパターンが生じる現象を利用して、物質の結晶構造を調べる方法。 |
(参考)名古屋市工業研究所、一般財団法人ファインセラミックスセンター 概要
(1) 名古屋市工業研究所
・所在地：名古屋市熱田区六野三丁目4番41号
・沿革
1937年：名古屋市工業指導所として、業務開始
1944年：名古屋市工業研究所と改称
・事業内容：中小企業のモノづくり支援、技術相談、依頼試験、研究
(2) 一般財団法人ファインセラミックスセンター
・所在地：名古屋市熱田区六野二丁目4番1号
・沿革
1985年：中部経済連合会が中心となり財界・産業界・自治体の協力を得て設立
2015年5月：設立30周年を迎える。
・事業内容：中小企業のモノづくり支援、ファインセラミックスを主とした材料に関する研究開発・試験評価
このページに関する問合せ先
あいち産業科学技術総合センター
企画連携部（担当：村上、酒井）
豊田市八草町秋合1267-1
電話：0561-76-8306
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